Çözünürlük Sistemleri
Çözünürlük Sistemleri NC-SFM başlangıçta konsolun sabit bir frekansta sabit bir genlik tarafından sürüldüğü genlik modülasyonu (AM) moduna dayanıyordu. Yüzeye yaklaşıldığında, uç yüzey etkileşimi konsol salınımlarının genliğinde ve fazında bir değişikliğe neden olarak ölçülebilir bir sinyal sağlar. Uygulamada, konsolun bu moddaki tepkisinin oldukça yavaş olduğu bulundu ve atomik çözünürlük çalışmalarında frekans modülasyonu (FM) modu ile değiştirildi. Ancak AM modu, hava ve sıvılarda yapılan "vuruş modu" çalışmalarında oldukça başarılı olmuştur. Genel olarak, en iyi çalışma modu, gereken çözünürlük ve sistemin kendisi tarafından belirlenir. SFM'deki gerçek atomik çözünürlük, yalnızca bu çalışmanın odak noktası olacak olan FM modunda elde edilmiştir. FM modu NC-SFM'de, özfrekansı f0 ve yay sabiti k olan bir konsol, bir geri besleme döngüsü aracılığıyla sabit bir A0 genliğinde salınımlarda tutulur. Konsol, kendinden tahrikli bir osilatör olarak düşünülebilir. Salınımların gerçek frekansı f0'a, konsolun kalite faktörü Q'ya ve tahrik uyartımı ile konsolun sapması arasındaki faz kaymasına θ bağlıdır. θ = π/2 için sistem f = f0'da salınır. Genel olarak, deneyler sırasında, sabit bir frekans değişimi ∆f elde etmek için uç-yüzey mesafesi değiştirilir ve elde edilen topografya haritası, yüzeyin görüntüsünü sağlar. Artık ∆f'deki değişimin görüntüleme sinyalini sağladığı sabit yükseklikte görüntü almak da mümkündür. Güvenilir görüntüleme için, deneysel kurulumun önemli olan bir yönü daha vardır: STM'de olduğu gibi, SFM deneylerinde normalde uç ve numune arasında bir sapma U uygulanır. Katkısız yarı iletken ve yalıtkan yüzeyler, özellikle yarılmış iyonik yüzeyler olmak üzere, hazırlandıktan sonra genellikle önemli lokalize yükler içerecektir. Bunlar, önemli uzun menzilli elektrostatik kuvvetlerin yanı sıra tarama sırasında uç yüzey kuvvetinde ani değişiklikler üretir. İletken yüzeyler için, uç ve yüzey arasındaki iş-fonksiyonu farkı, uzun menzilli bir kapasitif kuvvete katkıda bulunacaktır. Bu ek kuvvetler, kısa menzilli kuvvetlerin nispi katkısını azaltarak ve uç çarpma olasılığını artırarak taramayı daha zor hale getirir. Elektrostatik kuvvetlerin etkisinin azaltılması, yüzey üzerinde belirli bir noktada uygulanan önyargının bir fonksiyonu olarak ∆f'nin en aza indirilmesiyle elde edilebilir. Bu sürecin bir örneği görülebilir. Uç ve Yüzey Hazırlığı Her yüzey STM veya SFM'de yüksek çözünürlüklü olarak görüntülenemez. Atomik çözünürlüğe ulaşmak için, çoğu durumda yüzey kapsamlı bir hazırlığa ihtiyaç duyar. Kontrollü döngülerde haftalar hatta aylar süren püskürtme (çoğunlukla Ar+ olmak üzere iyonlarla bombardıman) ve tavlama (yüzey kusurlarının düzeltildiği noktaya kadar ısıtma) nadir değildir. Yüzey hazırlama başlı başına sofistike bir sanattır ve başarılı görüntülemenin anahtarlarından biridir. İyon saçılması ve elektron kırınımı gibi k-uzayı yöntemlerinin aksine, SPM ile görüntülenmek için bir yüzeyin sıralanmasına gerek yoktur. Aslında, bir yüzeydeki tek safsızlıklar ve basamak kenarları, deneyciler tarafından görüntülerinin kalitesini kontrol etmek için sıklıkla kullanılır. Böyle bir safsızlık, çift uç gibi hiçbir bozucu etkinin olmadığı varsayılarak yalnızca tek bir yapı olarak görüntülenir. Uç, tüm SPM yöntemlerinde görüntülemenin en önemli parçasıdır. STM uçları genellikle saf bir metalden, bir metal alaşımından veya genellikle laboratuvarda metal telden üretilen 10-20 farklı malzeme katmanıyla kaplanmış bir metal tabandan yapılır. Bazı durumlarda, STM görüntüleme için ağır katkılı Si uçları da kullanılır. 1920x1080 çözünürlük iyimidir Spektral çözünürlük nedir Ekran çözünürlük 2K çözünürlük Radyometrik çözünürlük nedir Metre altı çözünürlük Mekansal çözünürlük 1280x720 çözünürlük SFM ölçümleri için benzer uçlar da kullanılabilse de, bu çok nadirdir. Bunun nedeni, bir ucun konsol tutuşunun SFM'deki kuvvet değişikliklerinin izlenmesinde çok önemli bir rol oynamasıdır: (i) birçok SFM gerçekleştirmesinde konsol sapmaları, konsolun arkasından yansıyan ışık algılanarak ölçülür; (ii) konsol yay sabiti, uç şekli ve uç keskinliği, görüntü oluşumunda çok önemli roller oynar. Bu nedenle standart konsollar gereklidir. Çoğu durumda bunlar, yarı iletken çiplerle hemen hemen aynı şekilde mikro fabrikasyon yoluyla silikondan üretilir. Bazı durumlarda uç, moleküllerin kontrollü adsorpsiyonu ile değiştirilir. STM'de bunun bir yüzeydeki moleküllerin görünen yüksekliğini etkilediği gösterilmiştir. Ucun tam geometrisi, uç yapısının alan-iyon mikroskobu ile bir taramadan önce ve sonra belirlendiği bazı olağanüstü STM ölçümleri dışında genellikle bilinmemektedir. Konuları daha da karmaşık hale getirmek için uç geometrisi, tekrarlanabilir taramalı tünelleme spektroskopisi (STS) ölçümleri için belirleyicidir; ne yazık ki, STS için en uygun ucun topografik ölçümler için uygun olmadığı gösterilmiştir, çünkü yeterince yüksek bir çözünürlük sağlamaz. SFM'de, apekste belirli orbital konfigürasyonlarla bile temiz silikon uçlar üretmek için bazı girişimlerde bulunulmuştur, ancak görüntüler henüz silikon yüzeyler dışında herhangi bir şey üzerinde üretilmemiştir: bu nedenle gerçek kontrol kanıtı eksiktir. Şu anda en yaygın olarak kabul edilen görüş, SPM uçlarının oldukça düşük eğriliğe sahip bir tabandan ve en baştaki konumda tek bir atom bulunan birkaç katmandan oluşan bir atomik uç kümesinden oluştuğudur. STM'de, tünel bağlantısındaki tüm akım bu "tepe noktası" atomu aracılığıyla taşınır; iletkenlik alanı sonuç olarak oldukça küçüktür ve birkaç ̊A2 aralığındadır. STM hassasiyetinin kaynağı budur, çünkü akımı çok küçük bir yüzey alanının elektronik ortamına karşı çok hassas hale getirir. Keskin uç apeksinin son birkaç atomunun yüzey atomlarıyla etkileşimindeki varyasyonlar da SFM görüntülerindeki görüntü kontrastını belirler. Bununla birlikte, atomik yapıya olan bu hassasiyet aynı zamanda STM ve SFM görüntülerinin yorumlanmasını bu kadar zorlaştıran özelliklerin de kaynağıdır çünkü uç apeksinin gerçek geometrisi ve kimyası, yüzey ile uç arasındaki vakum bariyerindeki iletkenliği etkiler ve aynı zamanda uç yüzey kuvvetleri genellikle belirlenemez. Cu(100) ve NaCl(100) gibi basit metal yüzeyler için bile bu, farklı taramalar için farklı deneysel sonuçlara yol açar. SPM deneylerinde belirleyici faktörler tam olarak bilinmediğinden, alaka düzeylerinin simülasyonlardan çıkarsanması gerekir. Simülasyonların sistematik bir şekilde yapılması gerekir, örneğin, adsorbatların model uçlarının elektronik yapısı üzerindeki etkisini inceleyerek ve bu adsorbatların STM taramaları üzerindeki etkisini modelleyerek yapılmalıdır. Deneysel olarak, zorluk, en azından dikkatli ölçümlerde, bir dizi taramayı kaydederek ve istatistiksel bir ortalama olarak yüzey dalgalanması gibi kesin ölçümleri sunarak aşılır.

Moderatör Analizi – Meta-Analiz Ödevleri – Meta-Analiz Alanında Tez Yaptırma – Meta-Analiz Tez Yaptırma Ücretleri

Çeşitli Araştırmalar

Çalışmalar arasında sonuçlarda büyük, gerçek farklılıklar varsa, yalnızca özet sonuca dayalı herhangi bir sonuç, belirli bir miktarda hata gerektirir. Bu, etkileşimleri veya moderatör etkilerini görmezden gelmenin bilinen sorunudur. Bununla birlikte, artefaktların neden olduğu varyasyon, var olmayan metodolojik ve asli moderatörlere atfedilirse, daha da büyük hatalar yapılabilir.

Örneğin, meta-analiz çağından önce, tanınmış bir psikolog, çeşitli araştırma alanlarındaki sonuçlardaki farklılıklar nedeniyle cesaretini o kadar kırmıştı ki, psikolojideki herhangi bir bulgunun bir nesilden diğerine geçmesinin pek olası olmadığı sonucuna vardı. her kohort, araştırma sonuçlarını değiştirecek bazı sosyal boyutlarda her zaman farklılık gösterecektir.

Böyle bir konum, örnekleme hatası varyansının ve diğer yapay varyansın somutlaştırılmasını yansıtır. Böyle bir şeyleştirme, yalnızca epistemolojik hayal kırıklığına değil, aynı zamanda, soruyu cevaplamak için yeterli veri mevcutken, çalışmaları sonsuz bir şekilde tekrarlamak için harcanan muazzam çabaya da yol açar.

Büyük bir düzeltilmiş standart sapma varsa, çalışmaları aralarındaki ilgili farklılıklar temelinde gruplara ayırarak çalışmalar arasındaki varyasyonu açıklamak mümkün olabilir. Bu döküm, çalışmaların kategorilere açık bir alt bölümü olabilir veya çalışma özelliklerinden çalışma sonuçlarını tahmin etmek için regresyon yöntemlerini kullanan örtük bir döküm olabilir.

Bunların her ikisi de ayrıntılı olarak ele alınacaktır. Ancak, bir sonraki bölümde böyle bir dökümün yalnızca önemli bir düzeltilmiş varyans varsa denenmesi gerektiğini göstereceğiz. Aksi takdirde, moderatör arayışı, örneklem hatalarının büyük harf kullanımı nedeniyle çalışmaların yorumlanmasına ciddi hatalar getirebilir.

Moderatör Analizinde Örnekleme Hatasında Kodlama Çalışması Özellikleri ve Büyük Harf Kullanımı

Meta-analiz süreci Glass ve arkadaşları tarafından bileşik bir süreç olarak tanımlandı: (1) çalışmalar arasında tanımlayıcı istatistiklerin kümülasyonu; (2) çalışma tarihi, iç geçerliliğe yönelik tehditlerin sayısı ve benzeri gibi belki de 50 ila 100 çalışma özelliğinin kodlanması; ve (3) çalışma sonucunun kodlanmış çalışma özellikleri üzerine regresyonu.

Bu tür kodlamalar, araştırma entegrasyon sürecinde işin %90 ila %95’ini oluşturabilir. Yine de bu kodlama işi tamamen boşa gidebilir. Örnekleme hatası ve diğer artefaktlar için düzeltmeler yaptığımız kendi araştırmamızda, bu düzeltmelerden sonra kalan çalışmalar arasında genellikle çok az kayda değer farklılıklar bulduk.

Diğer bir deyişle, örnekleme hatası ve diğer artefaktlar çıkarıldıktan sonra çalışma sonuçlarında genellikle önemli bir değişiklik olmadığı deneyimimize göre (çalışmalar arasında varyasyona neden olan tüm artefaktları düzeltmenin hiçbir zaman mümkün olmamasına rağmen). Bu gibi durumlarda, çalışma özellikleriyle gözlemlenen tüm korelasyonlar, az sayıda çalışma nedeniyle örnekleme hatasının kapitalizasyonunun sonucu olacaktır.


Örnekleme hatası dışında çok az varyasyon varsa, bağımlı değişken (çalışma sonucu: r veya d istatistiği) düşük güvenilirliğe sahiptir. Örneğin, korelasyonlardaki çalışma arası varyansın %90’ı yapaylıktan kaynaklanıyorsa, çalışma sonucu değişkeninin güvenilirliği yalnızca .10’dur ve bu nedenle herhangi bir çalışma özelliği ile çalışma sonucu arasındaki maksimum korelasyon .10’un karekökü olur. 

Bu nedenle, çalışma özellikleri ve çalışma sonuçları arasında gözlemlenen büyük korelasyonlar, yalnızca örnekleme hatası nedeniyle meydana gelebilir. Çalışma özellikleri ile çalışma sonuç istatistikleri (rs veya d değerleri) arasında ilişki kurmak, istatistiksel olarak anlamlı olacak kadar büyük korelasyonlar ex post facto tanımlandığında, şans eseri büyük harf kullanımına yol açar.

Örnekleme hatası çok büyüktür çünkü bu analiz için örneklem büyüklüğü çalışmalardaki kişi sayısı değil, çalışma sayısıdır. Örneğin, gözlem olarak yalnızca 50 çalışma (mevcut meta-analizlerin tipik özelliği) ile çalışma sonucunun 40 çalışma özelliği (mevcut meta-analizlerin tipik özelliği) üzerine çoklu regresyonu, örnekleme hatası üzerinde büyük harf kullanımıyla 1.00 civarında bir çoklu korelasyona yol açacaktır. Gerçekten de, bazı çalışmalar çalışmalardan daha fazla çalışma özelliğine sahiptir, bu durumda çoklu korelasyonun fiat ile her zaman 1.00 olduğu bir durumdur.

Birçok meta-analiz aşağıdaki şekilde yapılır. Araştırmacılar, çalışma sonuçlarıyla en yüksek düzeyde ilişkili olan 5’i bulmak için önce 40 çalışma özelliğini inceler. Ardından, 5 tahmin edici için bir küçülme formülü (eğer kullanılıyorsa) kullanarak bu 5 ile çoklu regresyon kullanırlar.

Bununla birlikte, 40’tan en iyi 5’i seçmek, yaklaşık olarak 40 tahmin ediciden artan bir regresyon yapmakla aynıdır ve bu nedenle, büzülme formülünde 5 yerine 40 kullanılmalıdır. Çoğu durumda, uygun büzülme düzeltmesi, gerçek çoklu korelasyonun 0’a yakın olması.

Yyalnızca çalışma sonuçlarıyla en yüksek korelasyona sahip olan çalışma özellikleri korunduğunda ve regresyon analizine girildiğinde, şansa dayalı kapitalizasyon sorununun ne kadar ciddi olduğunu göstermektedir. Tablo 2.4, her çalışma karakteristiğinin çalışma sonuçlarıyla 0 bağıntılı olduğu ve tüm çalışma özelliklerinin birbiriyle 0 bağıntılı olduğu bir durumu göstermektedir.

Bu nedenle,  tüm çoklu bağıntıların gerçek değeri 0’dır; tablodaki tüm çoklu korelasyonlar yalnızca örnekleme hatasında büyük harf kullanımıyla üretilir. Tipik bir örnek düşünün. Kodlanan çalışma özelliklerinin sayısının 20 olduğunu ve çalışma korelasyonlarıyla en yüksek korelasyona sahip 4’ünün tutulduğunu ve regresyon analizinde kullanıldığını varsayalım. Çalışma sayısı 100 ise, beklenen çoklu R .36’dır, bu da yüksek oranda “istatistiksel olarak anlamlı” bir değerdir (p = .0002)

60 çalışma varsa, sahte çoklu R ortalama olarak .47 olacaktır. Sadece 40 çalışma varsa, .58 olacaktır. Tablo 2.4’teki her hücrede gerçek çoklu R’nin 0 olduğunu unutmayın. Tablo 2.4’teki değerler ortalama değerlerdir; bunlar en büyük değerler değildir. Gözlemlenen çoklu R’lerin yaklaşık yarısı, Tablo 2.4’teki değerlerden daha büyük olacaktır.

20 çalışma özelliğinden 4’ünün korunduğu durum, bazı gerçek meta-analizleri temsil etmektedir. Ancak, daha fazla sayıda çalışma özelliği genellikle kodlanır; örneğin, 40 ila 50 özelliğin kodlanması olağandışı değildir. 40’ı kodlanır ve 4’ü korunursa, sahte çoklu R’nin 40 çalışma ile .68, 60 çalışma ile .55 ve 80 çalışma ile .48 olması beklenebilir.

Çoklu R’nin sahte bir şekilde büyük olmasının nedeni, korunan çalışma karakteristik korelasyonlarının (şans) örnekleme hatasında büyük harf kullanımı ile gerçek 0 değerlerinden yukarı doğru saptırılmasıdır. Örneğin, 60 çalışma varsa ve 40 çalışma özelliği kodlanmışsa ancak yalnızca ilk 4 korunuyorsa, tutulan 4’ün korelasyonu ortalama .23 olacaktır. Bu korunan özellikler daha sonra .55’lik sahte bir R çarpımı verir.