Atomik emisyon için enstrümantasyon şunları içerir:

Yukarıda belirtildiği gibi, atomizasyon ve daha yüksek bir enerji seviyesine uyarma için ısı kaynağı bir alev olabilir. Tarihsel alternatifler arkları ve kıvılcımları içerir, ancak modern cihazlar, plazma olarak adlandırılan iyonize halde argon veya başka bir gaz kullanır.

Endüktif Olarak Eşleşmiş Plazmalar

Plazma, atomları iyonize etmek için yüksek voltajlı bir kıvılcımdan tohumlanarak başlatılır: ve bir radyo frekansı jeneratörüne bağlı bir indüksiyon bobininden gelen enerji ile sürdürülür. Bu, endüktif olarak eşleşmiş plazma (ICP) olarak bilinir.

Plazmalar 10 000 C’ye kadar sıcaklıklarda bulunur ve cihazda bir meşale görünümündedir. Numuneler bir nebülizör aracılığıyla veya AAS’de olduğu gibi hidrit üretimi, soğuk buhar üretimi veya bir grafit atomizerden elektrotermal buharlaştırma yoluyla verilebilir.

AES’in temel özelliği, çok elemanlı analize izin vermesidir. Optik sistemler, yayılan ışığı ya bir monokromatör aracılığıyla tek bir dedektöre ya da plazmanın etrafına yerleştirilmiş bir dizi monokromatör ve dedektöre yönlendirir. İlk düzenlemeyle, monokromatör, sırayla ilgilenilen dalga boylarının her birini verecek şekilde çalıştırılarak ardışık bir okuma dizisi yapılabilir.

Monokromatörlerin her biri önceden belirlenmiş dalga boylarındaki ışığı iletecek şekilde ayarlandığından, ikinci düzenleme ile eşzamanlı okumalar yapılabilir. Sıralı olarak okuyan bir cihaz, aynı anda okuyan bir cihazdan daha ucuzdur, ancak bir dizi okuma yapmak için daha fazla numune gerekir. Çoğu öğe için, ICP–AES için analitik duyarlılık.

Parazitler

ICP’nin yüksek çalışma sıcaklıklarında, spektrometre bant genişliği ile ayrılamayacak kadar birbirine çok yakın dalga boylarında farklı elementlerden ışık emisyonunun meydana geldiği spektral girişim potansiyeline yol açan birçok enerji geçişi meydana gelir. Bunların çoğu belgelenmiştir, böylece bir parazitten şüphelenildiğinde ölçüm için alternatif bir rezonans hattı kullanılabilir.

Atomik floresans spektroskopisi
Fotolüminesans nedir
Floresans Nedir
Atomik floresans spektroskopisi yöntemleri
Floresans spektroskopisi
Floresans SPEKTROSKOPİSİ çalışma prensibi
Fosforesans Nedir
Atomik floresans spektroskopisi pdf

Atomik Floresan

AFS için birkaç ticari araç mevcuttur ve bunlar hidrit oluşturan elementlerin ve cıvanın ölçümü ile sınırlıdır. Bileşenler, AAS için olanlara benzer. Işık kaynağı için elektrotsuz deşarj lambaları kullanılır ve optik yol, yalnızca yayılan flüoresan ışığı dedektöre ulaşacak şekilde değiştirilir.

Hangi dedektör kullanılırsa kullanılsın, hidrit oluşumunda belirli parazitler yaygındır. Numunede büyük miktarlarda bir hidrit oluşturan element varsa, diğer elementlerin tespit edilememesi için indirgeyici maddeyi tüketecektir.

Yüksek konsantrasyonlarda geçiş elementleri de hidrit oluşumunu engeller. Bunun bir sorun olabileceği durumlarda, analit matristen ayrılabilir, örn. şelasyon ve solvent ekstraksiyonu veya kromatografidir.

X-ışını floresansı

Numuneler, genellikle X-ışını tüplerinden gelen polikromatik birincil ışın olan yüksek enerjili fotonlar tarafından ışınlanır. Ancak klinik uygulamalar için ilgi çekici olan 244Cm, 241Am, 55Fe ve 109Cd kaynakları gibi radyoaktif izotopların kullanımıdır. İkincisi, in vivo XRF için geliştirilmiş taşınabilir cihazlarda kaynak olarak özellikle önemlidir.

Numune matrisi sinyal yoğunluğuna önemli ölçüde katkıda bulunduğundan, kalibrasyon zor olabilir ve genellikle farklı referans malzemelerinin ve/veya dahili standardizasyonun kullanılmasını gerektirir.

Çok ince filmler olarak hazırlanan numunelerde ve TXRF’de daha az sorunla karşılaşılır. Matrisin etkisiyle birlikte, duyarlılık dalga boyundan da etkilenir, öyle ki daha hafif elementler zor bir analitik zorluk sunar.

WDXRF’de, bir analizör kristalinde yansıma yoluyla bireysel spektral çizgilere dağılan floresan emisyonunu indüklemek için yüksek yoğunluklu X-ışınları kullanılır.

Kırılan ışınlar bir araya getirilir ve bir foton detektörüne yönlendirilir. ICP-AES’de olduğu gibi, spektrometreler, tüm element aralığının ölçülmesine izin vermek için bir dizi değiştirilebilir kristalle sıralı olarak veya genellikle belirli analitler için önceden ayarlanmış çok kanallı (eşzamanlı) modda çalışabilir.

Hafif elementler için algılama limitleri, EDXRF’e göre 10-100 kat daha düşüktür. Çözünürlük iyidir, ancak daha kısa dalga boylarında daha az. Ardışık enstrümanlar, eşzamanlı enstrümanlar veya EDXRF teknolojisi ile karşılaştırıldığında, birkaç elementi ölçmek için uzun analiz süreleri gerektirir.

EDXRF için, numuneden yayılan X-ışınları birlikte bir kristal detektöre yönlendirilir. X-ışını fotonunun enerjisiyle orantılı bir yükseklikte bir akım darbesi üretilir. Numunedeki çeşitli atomlarla (elementler) ilişkili farklı enerjiler elektronik olarak sıralanır.

Daha düşük enerji kaynakları (düşük güçlü bir X-ışını tüpü veya bir izotop kaynağı) kullanılır. Dedektör çok düşük bir sıcaklıkta ve temiz bir vakumda tutulmalıdır. Analiz süreleri WDXRF’den 10-30 kat daha uzundur, ancak gerçekten çok elemanlı bir teknik olarak toplam sürenin daha fazla olması gerekmez.

Yönlendirilmiş bir X-ışınları demeti, optik olarak düz bir yüzeye yaklaşık 50 (bir derecenin 5/60’ı) bir açıyla yöneltildiğinde, toplam yansıma meydana gelecektir. Bu, örneğin hem birincil hem de toplam yansıyan ışınlara maruz kaldığı ve floresan için uyarıldığı TXRF ilkesidir.

Yayılan radyasyon çözülür ve bir ED spektrumu olarak ölçülür. Matris tarafından etkin bir şekilde absorpsiyon olmadığından, ölçüm ve kalibrasyon çok daha basittir ve hassasiyetler diğer X-ray tekniklerine göre daha fazladır.

İnorganik Kütle Spektrometrisi

İnorganik kütle spektrometrisi için gerekli modüller şunları içerir:

İyon kaynakları

Yukarıda bahsedildiği gibi, çok sayıda iyon üretme cihazı vardır, ancak en yaygın olarak kullanılanı ICP’dir. Numuneler genellikle bir nebülizör veya kimyasal buharlaştırma (hidrit üretimi ve cıva soğuk buhar üretimi) yoluyla plazmaya verilir. Bazen katı bir numunenin lazerle ablasyonunun neden olduğu elektrotermal buharlaşma ve buharlaşma kullanılır.

Kütle analizörleri

Endüktif olarak birleştirilmiş plazma torcu, iyonların bir iyon mercek sisteminin iyonları kütle analiz cihazına yönlendirdiği iyon odaklama ünitesine çıkarıldığı iki metalik koni (sıyırıcı ve örnekleyici) aracılığıyla kütle analiz cihazına bağlanır. Çeşitli analizör konfigürasyonları ticari olarak mevcuttur.

Dört kutuplu sisteme sahip olanlar, türlerin m=z birim bazında ayrılmasını sağlayan sınırlı bir çözünürlük gücüne sahiptir. Tekniğin tüm potansiyelinden yararlanmak için, ICP kaynağının, dört kutuplu ICP-MS’den çok daha yüksek çözünürlük ve daha yüksek hassasiyet elde edebilen yüksek çözünürlüklü sektör alan kütle analizörü ile eşleştirilmesi gerekir.

Uçuş süresi kütle spektrometreleri, elektrotermal buharlaşma tarafından üretilenler gibi hızlı, geçici sinyallerin analizi için özellikle yararlıdır.

The post Atomik Floresan – Laboratuvar Tanı Bilimi – Laboratuvar Ödevleri – Lab Ödevleri – Kimya Mühendisliği – Kimya Ödev Yaptırma Ücretleri first appeared on Online (Parayla Ödev Yaptırma).